Microscopía Electrónica

Microscopios Electrónicos de Barrido

Desde la introducción de los microscopios de electrones en la década de 1930, la microscopía electrónica de barrido (SEM) se ha convertido en una herramienta fundamental dentro de numerosos campos de investigación distintos que abarcan desde la ciencia de los materiales hasta la ciencia forense, la fabricación industrial e incluso las ciencias de la vida.

Cuando se necesita información microscópica sobre la superficie o la zona cercana a la superficie de una muestra, el SEM se convierte en una herramienta necesaria. Por ese motivo, el método encuentra aplicaciones en casi todas las ramas de la ciencia, la tecnología y la industria.

Los SEM de piso ofrecen la flexibilidad y versatilidad necesarias para satisfacer una amplia gama de necesidades académicas e industriales: compatibilidad con muestras grandes y pesadas, una amplia gama de accesorios, excelente calidad de adquisición de imagen para los materiales más difíciles o los detalles más pequeños, y experimentación dinámica.

Thermo Fisher Scientific centra sus esfuerzos en la producción de SEM analíticos que se adaptan perfectamente a sus necesidades específicas. Ofrecemos una amplia gama de herramientas versátiles, desde los SEM de escritorio Thermo Scientific Phenom hasta los potentes instrumentos capaces de ofrecer una resolución y un contraste incomparables, como el SEM Thermo Scientific Verios.

Microscopios electrónicos de barrido de escritorio

Los instrumentos SEM de escritorio tienen una facilidad de uso mejorada, haciendo accesible la tecnología SEM. Además, tienen la ventaja de tener tamaño de marco reducido. Mientras que la instrumentación SEM tradicional de piso puede requerir una sala o instalación especializada, la instrumentación de escritorio es mucho más resistente. Algunos incluso han trasladado sus SEM a otras ubicaciones, proporcionando el análisis de microscopía electrónica in situ a través de laboratorios móviles.

Microscopios electrónicos de barrido

Los SEM de suelo ofrecen la flexibilidad y versatilidad necesarias para satisfacer una amplia gama de necesidades académicas e industriales: compatibilidad con muestras grandes y pesadas, una amplia gama de accesorios, excelente calidad de adquisición de imagen para los materiales más difíciles o los detalles más pequeños, y experimentación dinámica.

Microscopía electrónica de transmisión de barrido (S/TEM)

Los avances en la investigación científica de materiales dependen de información rápida y fiable de alta resolución que le permite optimizar el rendimiento de un material. La comprensión completa de su material requiere el uso de técnicas avanzadas de caracterización junto con datos de composición y estructurales en 2D y 3D.

Esto significa que necesita acceder a instrumentos sólidos y precisos capaces de proporcionar la información a escala atómica a la mayor resolución posible. La microscopía electrónica de transmisión de barrido (STEM) es capaz de proporcionar datos de alta calidad combinando los principios de microscopía electrónica de transmisión (TEM) y de microscopía electrónica de barrido (SEM). Al igual que TEM, STEM requiere muestras muy finas y observa principalmente a los electrones del haz transmitidos por la muestra. Una de las principales ventajas de STEM sobre TEM es que permite el uso de otras señales que no pueden correlacionarse espacialmente en TEM, incluyendo los espectros característicos de rayos X y la pérdida de energía de electrones.

Al igual que SEM, la técnica STEM realza un barrido de un haz de electrones muy bien enfocado a través de la muestra en un patrón de trama. Las interacciones entre los electrones del haz y los átomos de muestra generan una adquisición simultánea de flujo de señal de datos multimodales, que se correlaciona con la posición del haz para crear una imagen virtual en la que el nivel de señal en cualquier ubicación de la muestra se representa mediante el nivel de gris en la ubicación correspondiente de la imagen. Su principal ventaja sobre las imágenes SEM convencionales es la mejora de la resolución espacial.

Con STEM, se pueden recopilar datos analíticos extremadamente localizados para su muestra. Esto incluye asignaciones EDS de alta resolución de áreas grandes, sondeo de los estados de oxidación usando EELS y adquisición de imágenes de resolución atómica de las interfaces de materiales.

La línea de productos STEM de Thermo Fisher Scientific ofrece imágenes y análisis acelerados mediante un funcionamiento simplificado/automatizado, lo que ofrece una mayor calidad de datos y tiempos de adquisición más rápidos. También combina la adquisición de imágenes STEM de alta resolución con avances sin precedentes en la detección de señales EDS para la cartografía de composición y la caracterización química 3D con los detectores EDS Dual-X y Super-X de Thermo Scientific. Las plataformas STEM de Thermo Fisher Scientific son adecuadas para entornos multiuso y de varios usuarios al combinar todas las aplicaciones en un único sistema.

Software

Visualización 3D, Software de Análisis y Microscopía Electrónica.

Software para adquisición de datos de microscopía electrónica, análisis y reconstrucción.

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